蔡司Xradia 510 Versa具有突破性灵活性的3D亚微米成像系统
用这款X射线显微镜打破1微米分辨率的障碍,进行3D成像和原位/ 4D研究。
将分辨率和对比度与灵活的工作距离结合使用,可以扩展实验室中的非破坏性成像能力。
得益于其采用两级放大技术的结构,可以实现远距离(RaaD)的亚微米分辨率。减少对几何放大率的依赖性,即使在较大的工作距离下也可保持亚微米分辨率。
即使在距光源很大的工作距离(从毫米m到厘米)的情况下,也可以享受多功能性。
通过先进的吸收能力和创新的相衬对软或低Z材料进行3D成像
在**出投影式微型CT限制的灵活工作距离上实现的分辨率
解决亚微米级特征以适应各种样品量
使用原位/ 4D解决方案扩展实验室的无损成像
随着时间的推移在类似本机的环境中调查材料
图像质量的吞吐量
蔡司重建工具箱 更好的图像质量,更高的吞吐量
Advanced Reconstruction Toolbox是蔡司Xradia 3D X射线显微镜上的创新平台,可用于访问重建技术。*特的模块充分利用了对X射线物理原理和客户应用的深刻理解,以新颖的方式解决了较艰巨的成像挑战。