蔡司扫描电镜 电子显微镜sigma

蔡司SIGMA FE-SEM用于高质量成像和高级分析显微镜

蔡司Sigma 300具有**的价格和性能。借助ZEISS Sigma 500一*的EDS几何结构，可以快速，方便地完成元素分析。依靠精确，可重复的结果–每次都能从任何样品中获得结果。

灵活的检测4步骤工作流程，高级分析

将场发射SEM(FE-SEM)技术与分析相结合。受益于久经考验的双子座电子光学器件。从多种检测器选项中进行选择：材料科学中的图像颗粒，表面和纳米结构，研究半导体或医疗设备，地质或生物样品。Sigma的半自动4步工作流程可节省时间：结构化成像和分析程序并提高生产率。研究和工业实验室中所有学科的FE-SEM用户现在都受益于ZEISS Sigma 500在1 kV下1.3 nm的分辨率和更好的可用性。

灵活检测清晰图像

使用*新的检测技术根据您的需求定制Sigma，并对所有样品进行表征。

使用环形背向散射检测器(aBSD)表征成分，晶体学和表面形貌。在所有真空条件下，它都能提供出色的低kV图像。受益于更高的灵敏度，更高的信噪比和更快的速度。

享受新一代的二次电子(SE)检测器。在可变压力模式下受益于Sigma的C2D和VPSE检测器：在低真空下工作，您可以得到清晰的图像，对比度*高可提高85%。

自动化并加快工作流程

4个步骤的工作流程使您可以控制Sigma的所有功能。受益于快速的成像时间并节省了培训时间-尤其是在多用户环境中。

首先，浏览样品，然后设置*佳成像条件。

接下来，利用感兴趣区域(ROI)自动获取多个样本中的图像。最后，使用工作流程的最后一步对结果进行上下文可视化。

最后，SmartSEM Touch收集并以交互式地图的形式显示您的数据，以便您可以完全理解样品。

执行高级分析显微镜