工业X射线检测 高分辨率断层扫描

Xradia 410 Versa弥补了高性能X射线显微镜检测与功能不强的计算机断层扫描(CT)系统之间的差距。 Xradia 410 Versa提供具有行业较佳分辨率，对比度和原位功能的非破坏性3D成像，使您能够针对较广泛的样本量进行突破性研究。 使用这种功能强大，经济高效的“主力”解决方案增强成像工作流程，即使在不同的实验室环境中也是如此

　　灵活的样品尺寸和类型的行业良好的4D和原位能力

　　Xradia 410 Versa X射线显微镜可提供经济高效，灵活的3D成像，使您能够处理各种样品和研究环境。随着时间的推移，非破坏性X射线成像可以保留并扩展您宝贵样品的使用范围。该仪器实现了0.9μm的真实空间分辨率，较小可实现的体素尺寸为100 nm。先进的吸收和相位对比(适用于软质或低Z材料)为您提供更多功能，以克服传统计算机断层扫描(CT)方法的局限性。

　　Xradia Versa解决方案将科学研究扩展到**出基于投影的微米和纳米CT系统的极限。传统断层扫描依赖于单级放大倍率，Xradia 410 Versa采用基于同步加速器 - 口径光学系统的*特两阶段过程。它易于使用，具有灵活的对比度。远距离突破分辨率(RaaD)使您能够在原生环境和各种现场钻机中保持广泛的样品尺寸的亚微米分辨率。非破坏性多长度尺度功能允许您在各种放大倍率下对同一样品进行成像，从而可以*特地表征连续处理(4D)之间或受到模拟环境条件影响时材料微观结构特性的演变(原地)。

　　此外，Scout-and-Scan控制系统可通过基于配方的设置实现高效的工作流程环境，使Xradia 410 Versa易于为具有各种经验水平的用户提供便利。